Это первый спектрофотометр для УФ-видимого и ближнего ИК-диапаэона с тремя детекторами: ФЭУ + полупроводниковые на основе InGaAs и PbS. Полупроводниковые детекторы обеспечивает чрезвычайно высокую чувствительность на границе ближней ИК-области и видимого диапазона. Низкие значения шума при работе с малопрозрачными образцами делают данный спектрофотометр незаменимым. Эта особенность неоценима при исследовании плохо отражающих образцов, например, оптических волоконных материалов.
В обычных спектрофотометрах фотоэлектронный умножитель, используемый в качестве детектора для ультрафиолетовой и видимой области, и PbS детектор для измерений в ближнем ИК-диапазоне не могут обеспечить высокую чувствительность на границе ближнего ИК и видимого диапазонов. SolidSpec-3700 / 3700 DUV успешно решает данную проблему.
| Спектральный диапазон | SolidSpec-3700: стандартная модель 240 ~ 2600 нм с использованием приставки для прямого детектирования 190 ~ 3300 нм. SolidSpec-3700DUV: модель для измерения в глубоком УФ 175 ~ 2600 нм с использованием приставки для прямого детектирования 165 ~ 3300 нм. |
| Спектральная ширина щели | 8 ступенчатая: 0,1; 0,2; 0,5; 1; 2; 3; 5; 8 нм в УФ/видимой области 10 ступенчатая: 0,2; 0,5; 1; 2; 3; 5; 8; 12; 20; 32 нм в ближней ИК области |
| Оптическая схема | Двухлучевая |
| Разрешение | 0,1 нм |
| Шаг по длине волны | от 0,01 до 5 нм |
| Погрешность установки длины волны | ± 0,2 нм в УФ / видимой области ± 0,8 нм в ближней ИК области |
| Воспроизводимость длины волны | ± 0,08 нм в УФ/видимой области ± 0,32 нм в ближней ИК области |
| Скорость сканирования | Максимально 3600 нм/ в минуту для ФЭУ и InGaAs-детектора Максимально 1600 нм/ в минуту для PbS-детектора |
| Переключение ламп | Автоматическое переключение (можно выбрать в интервале между 282 и 393 нм с шагом 0,1 нм) |
| Рассеянный свет | < |
| Фотометрический диапазон | -6 ~ 6 Abs |
| Фотометрическая точность | ± 0,002 Abs (0~0,5 Abs) NIST 930D фильтр ± 0,003 Abs (1,0 Abs) NIST 930D фильтр |
| Уровень шума | 0,0002 Abs или менее (500 нм) 0,00005 Abs или менее (1500 нм), щель 8 нм, пост, времени 1 с |
| Колебания базовой линии | ± 0,003 Abs (от 240 до 350 нм), ± 0,002 Abs (от 350 до 1600 нм), ± 0,004 Abs (от 1600 до 2600 нм), ± 0,001 Abs (от 200 до 3000 нм) при использовании DDU |
| Дрейф | SolidSpec-3700 0,0002 Abs/час (после 2 часов прогрева прибора, 500 нм, постоянная времени 1с) SolidSpec-3700DUV 0,0003 Abs/час (после 2 часов прогрева прибора, 500 нм, постоянная времени 1с) |
| Источники света | 50 Вт галогенная лампа (2000 часов работы) Дейтериевая лампа (1250 часов работы) Встроенное автоматическое позиционирование ламп. |
| Монохроматор | Двойной монохроматор с дифракционными решетками |
| Детекторы | УФ/видимая область: ФЭУ (типа R928 для SolidSpec-3700, R955 для5оМБрес-37000и\/) Ближняя ИК область: InGaAs фотодиод и охлаждаемый PbS |
| Окружающая температура | 15-35 °С |
| Окружающая влажность | От 35 до 80% (комн. температура 15 - 30 °С) От 35 до 70% (комн. температура 30 - 35 °С, без конденсации) |
| Размеры кюветного отделения | 900 х 700 х 350 мм (Ш х Г х В) Максимальный размер образца 700 х 560 х 40 мм (Ш х Г х В) |
| Размеры | 1000 х 800 х 1200 мм (Ш х Г х В) |
Рекомендуемые товары