Революционный инструмент для решения задач в областях:
- Оптика, тонкие пленки и покрытия
- Стекла
- Солнечная энергетика
- Научные и промышленные исследования
Новейшая разработка Agilent Technologies, принципиально новый универсальный спектрофотометр Agilent Сагу 7000 Universal Measurement Spectrophotometer (UMS) удовлетворяет всем требованиям измерения твердых проб. Измерение практически любой пробы, измерение абсолютного коэффициента отражения и пропускания под любым углом и измерение без участия оператора.
Сбор сотен УФ-Вид-БИК-спектров в течение ночи или получение характеристик оптических компонентов и тонких пленок за время от нескольких минут до нескольких часов вместо интервалов от нескольких часов до нескольких дней. Сагу 7000 UMS расширяет ваши возможности анализа материалов, предоставляя результаты, готовые для использования в исследованиях, разработках, а также при обеспечении и контроле качества оптики, тонких пленок и покрытий, солнечных элементов и стекол.
Инновационный спектрофотометр Сагу 7000 UMS позволит проводить недоступные ранее эксперименты, расширит возможности исследований и поможет сэкономить время и деньги.
Полный анализ в течение одной рабочей последовательности без перемещения образца
Сагу 7000 UMS позволяет измерять абсолютные коэффициенты отражения и пропускания при различных углах и поляризации в течение одной рабочей последовательности. Таким образом, можно получить полную характеристику образца, не перемещая его. Сагу 7000 UMS — это первая полностью универсальная измерительная система, исключающая необходимость использования многочисленных приставок, их замены и перенастройки. Ее применение обеспечивает высокое качество данных, устраняет влияние неоднородности пробы и противоречивость спектральных данных, возникающую при использовании нескольких методик анализа для выполнения одного измерения.
Снижение стоимости анализа и повышение качества данных
Рекордные интервалы сбора данных: время анализа сокращается с нескольких дней до нескольких часов и с нескольких часов до нескольких минут. Прямой обзор при детектировании и продуктивность единой базовой линии. Уникальная система детектирования Сагу 7000 UMS с прямым обзором позволяет под несколькими углами выполнять измерения абсолютного коэффициента отражения (R), пропускания (Т), поглощающей способности (А), а также измерения рассеяния в интервале почти 360 градусов, помогая, таким образом, сэкономить время и сократить расходы. Чтобы собрать и обработать сотни спектров, достаточно установить методику, собрать данные для единой базовой линии и установить пробу.
Анализ современных материалов благодаря диапазону оптической плотности 10 Abs
Спектрофотометр Сагу 7000 обеспечивает самые высокие качество и производительность по сравнению с другими доступными на рынке спектрофотометрами УФ-Вид-БИК-диапаэона. Крайне низкий уровень шума и оптический диапазон 10 Abs спектрофотометра Сагу 7000 позволяет получать результаты высокого качества даже с самыми сложными пробами, например с фильтрами, обладающими высокой оптической плотностью.
Сагу 7000 UMS предлагает следующие режимы измерений:
- Абсолютный коэффициент зеркального отражения
- Прямое пропускание, отражение и поглощение — без перемещения пробы
- Рассеянное пропускание и отражение — путем перемещения детектора независимо от пробы и управления геометрией входящего/исходящего пучка Выполнение нескольких измерений в одной системе
Больше не нужно приобретать многочисленные приставки для выполнения различных измерений. При работе с Сагу 7000 UMS нет необходимости заменять приставки, устанавливать несколько методик или перемещать пробу. Таким образом обеспечивается воспроизводимость спектральных данных. Сагу 7000 UMS выдаст точные и быстрые результаты без участия оператора — это немыслимо для любой другой системы
| Параметр | Ед. измерения | Значение |
| Источник | Вольфрам-галогенная | |
| и дейтериевая лампы | ||
| Оптическая схема | Двухлучевая, двойной | |
| монохроматор Литтро | ||
| Дифракционная решётка | мм | 70×45 |
| УФ-Ви | линий/мм | 1200 (250) |
| (конц., нм) | ||
| БИК | линий/мм | 300 (1192) |
| (конц., нм) | ||
| Детектор, УФ-Вид | R928 ФЭУ | |
| БИК | охл. PbS | |
| УФ-Вид-БИК (UMA) | Si/InGaAs | |
| Спектральный диапазон | нм | 175...3300 |
| Ширина полосы, УФ-Вид | нм | 0,01...5,00 с шагом 0,1 |
| БИК | нм | 0,04...20 |
| Точность длин волн, УФ-Вид | нм | ±0,08 |
| БИК | нм | ±0,4 |
| Воспроизводимость длин волн, УФ-Вид | нм | <0,025 |
| БИК | нм | <0,1 |
| Макс. скорость сканирования, УФ-Вид | нм/мин | 2 000 |
| БИК | нм/мин | 8 000 |
| Фотометрическая точность, при 0,3 А | <0,00025 | |
| Фотометрический шум, УФ-Вид | <0,00009 | |
| БИК | <0,00003 | |
| Фотометрическая стабильность | А/ч | <0,00018 |
| Фотометрический диапазон | 8,0 А | |
| Кюветное отделение | см | 16×43,3×22,1 |
| Габариты, (Ш×Г×В) | см | 102×71×38 |
| Вес | кг | 91 |
| Виды измерений | Полное зеркальное отражение, | |
| диффузное рассеяние, | ||
| зеркальное отражение, пропускание, | ||
| рассеянное пропускание, | ||
| частично рассеянное пропускание | ||
Рекомендуемые товары